برترین کاربران هفتگی این مقاله

از ۱۳۹۷/۰۵/۲۷ تا ۱۳۹۷/۰۶/۰۲

هیچ کاربری در این بازه زمانی وجود ندارد

آمار مقاله
  • بازدید کل ۳,۴۷۴
  • بازدید این ماه ۳۴
  • بازدید امروز ۲
آمار آزمون مقاله
  • کل شرکت کنندگان ۹۸
  • قبول شدگان ۵۲
  • شرکت کنندگان یکتا ۵۳
  • میانگین درصد شرکت کنندگان ۵۰
واژه نامه فناوری نانو

نانو

nano

پيشوندي به معناي يک بيليونم يا (000،000،000،1/1). در متون فناوري‌نانو، معمولا براي مشخص کردن يک واحد اندازه‌گيري برابر با 10 به توان منفي 9 متر استفاده مي‌شود.

سطح مقاله

تخصصی

طرح درس

منابع پیشنهادی هشتمین مسابقه ملی-عناوین کلی

نویسندگان
امتیاز کاربران

روش‌های استخراج کدهای طبقه‌بندی


1. مقدمه
طبقه‌بندی اسناد پتنت براساس یک سیستم طبقه‌بندی خاص، مستلزم آشنایی کامل با این سیستم طبقه‌بندی از قبیل اجزاء، ساختار و نیز اصطلاحات، مفاهیم و اصول آن می‌باشد. بطوریکه با اشراف به موضوع اختراع و نیز سیستم طبقه‌بندی انتخاب شده و با اتخاذ روش سیستماتیک می‌توان کدهای طبقه‌بندی مناسب را به سند پتنت مورد نظر اختصاص داد. بهرحال علاوه بر روش سیستماتیک که در ادامه تشریح خواهد شد می‌توان با استفاده از روش پتنت‌های مشابه و نیز ابزارهای ارائه شده توسط وایپو، این طبقه‌بندی را تکمیل کرد. در حقیقت می‌توان گفت روش اصلی و جامع طبقه‌بندی اسناد پتنت، روش سیستماتیک می‌باشد و روش‌های دیگر، روش‌های کمکی است.

2.روش سیستماتیک (Systematic Approach):
جهت اختصاص کدهای مناسب طبقه‌بندی به اسناد پتنت، ابتدا باید ویژگی‌های اساسی موضوع فنی اختراع تعیین شود. با توجه به اینکه سیستم IPC، یک سیستم طبقه‌بندی دارای سلسله مراتب می‌باشد می‌توان ساختار سلسله مراتبی این سیستم را گام به گام دنبال کرد و به کدهای طبقه‌بندی موضوع اختراع دست یافت. این رویکرد، یعنی تعیین به ترتیب بخش، طبقه، طبقه فرعی و سپس گروه اصلی یا گروه فرعی، روش سیستماتیک نامیده می‌شود. بایستی توجه داشت که خواندن تمام عناوین، یاداشت‌های توضیحی، تعاریف و مراجع از اهمیت خاصی برخوردار است زیرا در برخی مکان‌ها این موارد می‌تواند بطور مثال تفسیر عنوان گروه‌های اصلی و گروه‌های فرعی را اساساً تحت تاثیر قرار دهد.

2-1- انتخاب طبقات فرعی
در روش سیستماتیک، ابتدا بخش مرتبط با موضوع اختراع مشخص می‌شود سپس زیربخش و طبقه مناسب تعیین می‌گردد و تحت طبقه انتخاب شده، طبقه فرعی که موضوع مورد نظر را به بهترین نحو پوشش دهد انتخاب می شود.
برای تعیین طبقات فرعی مرتبط، اغلب استفاده از روش‌های جایگزین می‌تواند مفیدتر باشد. این روش‌های جایگزین عبارتند از:
1- استفاده از فهرست کلمات راهنمای (Catchword Index) مرتب شده بر اساس حروف الفبا در سیستم IPC
2- جستجوی متنی در IPC یا در فهرست کلمات راهنما بطور مثال با استفاده از ابزار Search Terms یا ابزار IPCCAT
3- بررسی کدهای طبقه‌بندی اسناد پتنت دارای بیشترین ارتباط با موضوع مورد نظر، بطور مثال از طریق آنالیز آماری اسناد یافت شده در طی جستجوی متن با استفاده از عبارت‌های جستجوی مرتبط (روش پتنت‌های مشابه)
اگرچه این روش‌های جایگزین ممکن است منجر به تعیین مکانی حتی جزئی‌تر از طبقه فرعی (مثلاً گروه) شود بهرحال ارتباط این مکان با موضوع مورد نظر، همیشه باید از طریق بررسی حوزه آن براساس مکان‌های دارای سلسله مراتب بالاتر و قواعد طبقه‌بندی در آن مکان خاص IPC، تایید شود.
بعد از تعیین طبقه فرعی با استفاده از روش‌های بیان شده، بررسی اینکه آیا حوزه این طبقه فرعی جهت پوشش موضوع فنی موردنظر به اندازه کافی وسیع است ضروری می‌باشد. بدین منظور، مراجع و یاداشت‌های ارائه شده بعد از عنوان این طبقه فرعی و تعریف آن (در صورت وجود) باید مدنظر قرار گیرد.

2-2- انتخاب گروه
بعد از انتخاب طبقه فرعی مقتضی، باید فرایند استفاده از ساختار سلسله مراتبی IPC با تعیین گروه‌های اصلی و فرعی مرتبط در زیر طبقه فرعی انتخاب شده، ادامه یابد.
در فایل Guide to the IPC ارائه شده توسط وایپو [1] بیان شده است که در ادارات مالکیت فکری که تخصص کافی جهت طبقه‌بندی تا سطح با جزئیات بیشتر (یعنی گروه‌های فرعی) وجود نداشته باشد «گزینه طبقه‌بندی تنها در گروه‌های اصلی» وجود دارد.

3- فهرست کلمات راهنما (Catchword Index)
«فهرست رسمی کلمات راهنما»، یک لیست متشکل از حدود 20000 کلید واژه یا عبارت فنی به ترتیب حروف الفبا می‌باشد. این فهرست به زبان انگلیسی و فرانسوی بصورت آنلاین در وب سایت زیر که مربوط به وایپو می‌باشد موجود است:
بخشی از این کلمات راهنما در شکل 1 نشان داده شده است. کاربر با کلیک بر روی این کلمات، به مکان طبقه‌بندی مقتضی ارجاع داده می‌شود. بطور مثال اگر ما بر روی واژه BARIUM کلیک کنیم صفحه‌ای مطابق شکل 2 باز می‌شود. همانطور که در این شکل نشان داده شده کد C22B 26/20 برای واژه BARIUM پیشنهاد شده است. همچنین مکان‌های دیگری پیشنهاد شده بطوریکه ممکن است موضوع فنی مورد نظر در آنجا طبقه‌بندی شود.

filereader.php?p1=main_c4ca4238a0b923820
شکل 1- فهرست کلمات راهنما (Catchword Index)

filereader.php?p1=main_c81e728d9d4c2f636
شکل 2- دستیابی به کد طبقه‌بندی با جستجوی واژه BARIUM با استفاده از Catchword Index

این کلمات راهنما نقطه شروع مفیدی جهت یافتن کد مناسب در سیستم IPC می‌باشد. علاوه بر کلیدواژه‌های متن IPC، این سیستم دارای کلمات راهنما و کلمات مترادف می‌باشد تا مکان IPC مربوطه راحتر پیدا شود.

4- ابزار Search Terms
ابزار دیگری که می‌تواند به طبقه‌بندی موضوع مورد نظر کمک کند جستجوی متن طرح IPC یا «فهرست کلمات راهنما» با استفاده از دکمه «Terms» زیر گزینه Search است. این قابلیت، مطابق شکل 3 در سمت چپ سایت وایپو به آدرس http://web2.wipo.int/ipcpub وجود دارد.
با کلیک کردن بر روی دکمه «Terms»، صفحه‌ای مطابق شکل 4 باز می‌شود. با وارد کردن کلید واژه‌ها در جعبه روبروی عبارت Word(s)، چند کد پیشنهاد می‌شود. در این صفحه با تیک زدن Catchwords، می‌توان جستجوی فهرست کلمات راهنما را نیز انجام داد. همچنین با تیک زدن Stemming، جستجوی کلمات هم ریشه نیز انجام می‌گردد.

filereader.php?p1=main_eccbc87e4b5ce2fe2
شکل 3- ابزار Search Terms ارائه شده در سایت وایپو

filereader.php?p1=main_a87ff679a2f3e71d9
شکل 4- استفاده از ابزار Search Terms جهت یافتن کد طبقه‌بندی در سیستم IPC

5- ابزار IPCCAT
این ابزار (شکل 5) توسط وایپو طراحی شده است تا به ادارات ثبت اختراع کوچک یا متوسط کمک کند تا تقاضانامه‌ها را براساس سیستم IPC طبقه‌بندی کنند. جهت استفاده از این ابزار، کاربر متنی از اختراع را به زبان انگلیسی یا فرانسوی در محل مورد نظر وارد می‌کند بطوریکه بر اساس این متن، تعدادی کد طبقه‌بندی در سطح طبقه، طبقه فرعی یا گروه اصلی پیشنهاد می‌شود. این سیستم با توجه به پتنت‌هایی که قبلاً توسط کارشناسان طبقه‌بندی شده‌اند آموزش داده شده و طوری طراحی شده است که طبقه‌بندی را براساس مفهوم عبارت‌های کامل توصیف کننده اختراع انجام می‌دهد و یک ابزار جستجوی مبتنی بر کلید واژه نیست. در صورتیکه از چند کلید واژه محدود به عنوان ورودی استفاده شود باز هم چند کد طبقه‌بندی پیش‌بینی خواهد شد اما نتایج بدست آمده باید با احتیاط بیشتری مدنظر قرار گیرد.

filereader.php?p1=main_e4da3b7fbbce2345d
شکل 5- صفحه اول ابزار IPCCAT

با توجه به اینکه آموزش ابزار IPCCAT ابتدا با استفاده از عنوان و چکیده پتنت‌ها انجام شده است لذا در صورتیکه کاربر نمی‌خواهد از متن کامل سند پتنت استفاده کند پیشنهاد می‌شود به جای انتخاب تصادفی بخشی از توصیف سند پتنت، چکیده پتنت (به عنوان حداقل متن مورد نیاز) مورد استفاده قرار گیرد.
با استفاد از دکمه «Browse» می‌توان فایل مورد نظر را آپلود کرد بطوریکه با کلیک کردن بر روی دکمه «Supported formats» می‌توان فرمت‌های قابل قبول را مشاهده کرد. در این سیستم گزینه «Number of predictions» وجود دارد که با استفاده از آن می‌توان تعداد پیشنهادهایی را که این ابزار ارائه می‌دهد تعیین کرد؛ می‌توان تعداد پیشنهادها را 3 یا 5 تعیین کرد. همچنین با استفاده از گزینه «Classification level» می‌توان مشخص کرد که کدهای طبقه‌بندی پیش‌بینی شده در سطح طبقه، طبقه فرعی یا گروه اصلی باشد. البته سطح پیش فرض این ابزار، طبقه فرعی می‌باشد.
مثال 1: سند پتنتی با عنوان « SYSTEMS AND METHODS FOR RECOGNIZING, CLASSIFYING, RECALLING AND ANALYZING INFORMATION UTILIZING SSM SEQUENCE MODELS» در نظر بگیرد. سایر مشخصات این سند پتنت در شکل 6 نشان داده شده است.
این سند پتنت دارای چکیده‌ای بصورت زیر می‌باشد:
A biologically-inspired model for sequence representation, method of construction and application of such models, and systems incorporating same are provided. The model captures the statistical nature of sequences and uses that for sequence encoding, recognition, and recall. The model can be trained in real time, has few tunable parameters, and is highly parallelizable, which ensures that it can scale up to very large problems. Applications of the model to word and speech recognition, machine leaning, robotics, computational bioinformatics, genetics datasets, and other sequence processing pipelines are provided.

filereader.php?p1=main_1679091c5a880faf6
شکل 6- اطلاعات مربوط به سند پتنت مثال 1 بدست آمده از سایت PATENTSCOPE

1- چکیده سند پتنت فوق را در داخل جعبه متنی وارد می‌کنیم. تعداد پیش‌بینی‌ها را 3 و سطح طبقه‌بندی را «طبقه» تعیین کرده و بر روی دکمه «Classify» کلیک می‌کنیم. صفحه‌ای مطابق شکل 7 باز می‌شود.

filereader.php?p1=main_8f14e45fceea167a5
شکل 7- صفحه دوم ابزار IPCCAT

همانطور که در شکل 7 مشخص است در این صفحه جدولی وجود دارد که در ستون IPC آن سه کد در سطح طبقه پیشنهاد شده است. در ستون Description با کلیک بر روی آیکون می‌توان به کد طبقه‌بندی مورد نظر در سیستم IPC دست یافت. همچنین ستون Confidence نشان دهنده شاخص اطمینان (Confidence indicator) می‌باشد. این شاخص نشان دهنده میزان اطمینان از پیش‌‎بینی انجام شده براساس آموزش قبلی ابزار است. در حقیقت تعداد ستاره‌های بیشتر حاکی از اطمینان بیشتر نسبت به پیش‌بینی انجام شده است. در ستون Refine با کلیک برروی آیکون می‌توان به پیش‌بینی در سطح پایین‌‎تر دست یافت.

2- با توجه به شکل 7، ابزار IPCCAT در سطح طبقه، 3 کد G06، G10 و F16 را برای طبقه‌بندی چکیده سند پتنت مربوط به مثال 1 پیشنهاد کرده است که از این بین کد G06 دارای چهار ستاره می‌باشد که به معنای اطمینان بیشتر است. این پیش‌بینی با کد G06F 19/00 که توسط کارشناس طبقه‌بندی به این سند پتنت اختصاص داده شده است (مطابق شکل 6) تطابق دارد. جهت انجام پیش‌بینی در سطح طبقه فرعی بر روی آیکون روبروی کد G06 کلیک می‌کنیم. مطابق شکل 8 سه کد G06N، G06K و G06F پیش‌بینی می‌شود بطوریکه هر سه کد دارای سطح اطمینان یکسان یعنی سه ستاره، می‌باشد.

filereader.php?p1=main_c9f0f895fb98ab915
شکل 8 صفحه سوم ابزار IPCCAT

3- برای انجام طبقه‌بندی در سطح پایین‌تر (گروه اصلی)، برروی آیکون روبروی کد G06F کلیک می‌کنیم. مطابق شکل 9 سه کد در سطح گروه اصلی پیش‌بینی می‌شود. این کدها G06F 19/00، G06F 17/00 و G06F 15/00 به ترتیب دارای چهار، سه و دو ستاره می‌باشد. بنابراین می‌توان گفت که کد مورد نظر ما G06F 19/00 می‌باشد که با کدی که قبلاً به این سند پتنت توسط کارشناسان طبقه‌بندی اختصاص داده شده است (شکل 6) تطابق کامل دارد. باید توجه شود که کد انتخاب شده باید از طریق بررسی طرح IPC تایید شود بدین منظور می‌توان بر روی آیکون روبروی کد انتخاب شده کلیک کرد تا طرح IPC نمایش داده شود.

filereader.php?p1=main_45c48cce2e2d7fbde
شکل 9- صفحه چهارم ابزار IPCCAT

6- روش پتنت های مشابه
در این روش جهت طبقه‌بندی یک سند پتنت یا موضوع فنی مورد نظر، ابتدا کلید‌واژه‌های مناسب را انتخاب کرده و سپس این کلید‌واژه‌ها را در یک پایگاه داده پتنت مناسب (بطور مثال PATENTSCOPE)، جستجو می‌کنیم. عبارت جستجو را آنقدر اصلاح می‌کنیم تا نهایتاً به نتایج منطقی و مرتبط برسیم، آنگاه با تحلیل نتایج جستجو، کدهای طبقه‌بندی را که بیشتر به اسناد پتنت با موضوع مشابه اختصاص داده شده است استخراج می‌کنیم. احتمال اینکه موضوع مورد نظر هم در این کدها طبقه‌بندی شود زیاد است. در ادامه این روش با استفاده از یک مثال تشریح خواهد شد.
مثال 2: فرض می‌کنیم موضوع سند پتنتی در مورد حصارهای الکتریکی جهت دور کردن حیوانات است و می‌خواهیم این سند پتنت را طبقه‌‌بندی کنیم. عبارت “electric fence” را به عنوان عبارت جستجو انتخاب کرده و آن را مطابق با شکل 10 در داخل جعبه روبروی Search For: وارد می‌کنیم. سپس برروی دکمه Search کلیک می‌کنیم تا صفحه‌ای مطابق شکل 11 باز شود.

filereader.php?p1=main_d3d9446802a442597
شکل 10- جستجوی عبارت“electric fence” در پایگاه داده PATENTSCOPE

filereader.php?p1=main_6512bd43d9caa6e02
شکل 11- نتایج جستجوی electric fence در پایگاه داده PATENTSCOPE

همانگونه که در شکل 11 مشخص است 638 سند پتنت برای این جستجو بدست آمده است که با بررسی نتایج متوجه می‌شویم که نتایج با موضوع مورد نظر ارتباط دارد. برروی Analysis کلیک می‌کنیم بطوریکه صفحه‌ای مطابق شکل 12 باز می‌شود.

filereader.php?p1=main_c20ad4d76fe97759a
شکل 12- آنالیز نتایج جستجو بصورت جدول

در این شکل، کشورها، مکان‌های طبقه‌بندی، متقاضی‌ها و مخترعان براساس تعداد اسناد پتنت مرتب شده‌اند. مثلاً این جدول نشان می‌دهد که از این 638 سند پتنت، 266 مورد در کشور آمریکا به ثبت رسیده است. همچنین این آنالیز نشان می‌دهد که کدهای H05C، A01K و H01B به ترتیب 212، 184 و 141 بار به این اسناد پتنت اختصاص داده شده است. با بررسی این کدها در طرح سیستم IPC متوجه می‌شویم که موضوع مورد نظر ما در طبقه فرعی A01K قابل طبقه‌بندی است. علاوه بر جدول، می‌توان نتایج جستجو را بصورت نمودار نیز مشخص کرد. بدین منظور باید بر روی دکمه Graph و سپس بر روی یکی از دکمه‌های bar یا pie کلیک کرد تا نمودار‌های میله‌ای یا دایره‌ای نتایج جستجو بر اساس کشور، کدهای طبقه‌بندی، متقاضی، مخترع و تاریخ انتشار، ایجاد شود.

منابـــع و مراجــــع

1. http://www.wipo.int/export/sites/www/classifications/ipc/en/training/ppt_presentations/ipc_basics_201307.ppt

2. http://web2.wipo.int/ipcpub

3. http://irannano.org/edu/index.php?actn=papers_view&id=283

4. http://www.wipo.int/export/sites/www/classifications/ipc/en/guide/guide_ipc.pdf

5. https://depatisnet.dpma.de/ipc/help.do

6. http://www.wipo.int/classifications/ipc/en/faq/

7. https://e-courses.epo.org/wbts/cpc_general/index.html

8. http://www.uspto.gov/web/patents/classification/cpc.html

9. http://en.wikipedia.org/wiki/Cooperative_Patent_Classification

10. http://www.epo.org/about-us/annual-reports-statistics/annual-report/2012/highlights/cpc.html

11. http://www.cooperativepatentclassification.org/about.html

12. http://www.cooperativepatentclassification.org

13. http://en.wikipedia.org/wiki/Patent_classification

14.http://www.epo.org/searching/essentials/classification/cpc.html

15. http://en.wikipedia.org/wiki/International_Patent_Classification

16. http://www.wipo.int/classifications/ipc/en/

17. http://www.cooperativepatentclassification.org/publications/ CpcSchemeAndDefinitions.pdf

18. worldwide.espacenet.com/classification

19. http://ep.espacenet.com/help?locale=en_EP&method=handleHelpTopic&topic=cpc

20. http://www.uspto.gov/web/patents/classification/

21. http://www.uspto.gov/patents/resources/classification/CPC_Training.jsp

22.http://www.cooperativepatentclassification.org/faq.html

23. http://en.wikipedia.org/wiki/European_Classification

24. http://www.intellogist.com/wiki/ECLA_Classification_System

25. http://library.queensu.ca/webeng/patents/ECLA_Class_Guide.pdf

26. http://ip-science.thomsonreuters.com/m/pdfs/dwpicovkinds/CPC-2013.pdf

27. http://www.uspto.gov/patents/resources/classification/overview.pdf

28. http://en.wikipedia.org/wiki/United_States_Patent_Classification

29. http://ip-science.thomsonreuters.com/m/pdfs/dwpicovkinds/CPC-2013.pdf

30. http://depatisnet.dpma.de/ipc/recherche.do?search

31. http://www.uspto.gov/patents/resources/classification

32. http://www.prv.se/en/patents/online-services/the-german-patent-classification-dpk-in-english/introduction-to-the-german-patent-classification-dpk

33. http://www.intellogist.com/wiki/DEKLA_Classification_System

34. http://www.dpma.de/english/service/classifications/internationalpatentclassification/index.html

35. https://en.wikipedia.org/wiki/German_Patent_Classification

36. http://www.intellogist.com/wiki/Japanese_F-Index_and_F-Terms

37. https://www.jpo.go.jp/cgi/linke.cgi?url=/torikumi_e/searchportal_e/classification.htm

38. http://www.wipo.int/classifications/ipc/en/training/

39. http://www.wipo.int/export/sites/www/classifications/ipc/en/general/guidelines_what_to_classify.pdf

40. http://www.wipo.int/export/sites/www/classifications/ipc/en/training/ppt_presentations/checklist_for_classification.pdf

41. http://www.osim.ro/brevete/manuale.osim/manualompi/handbook/eng/05/e050103.pdf

42. www.wipo.int/ipc-ief/ief-projects/ce332/ce332-a01_ibpr.doc

43. http://www.wipo.int/export/sites/www/classifications/ipc/en/training/training_ex/pdf/tr_ex_ipc2013.pd

44. https://www3.wipo.int/ipccat/pages/help_EN.html;jsessionid=257B4021C459898E 906897DE08E00EA1

45. http://web2.wipo.int/ipcpub/#¬ion=cw&version=20140101&symbol=F16H0001300000

46. https://www3.wipo.int/ipccat/

47. http://patentscope.wipo.int/search/en/search.jsf

48. http://www.bananaip.com/sinapse-blog/2011/02/new-ipc-class-for nanotechnology .html

49. http://www.epo.org/news-issues/issues/classification/nanotechnology.html

50. http://mke.ntua.gr/documents/10179/128867/nanotech_brochure_en.pdf/63323f3b-af 9b-4fc1-9b3a-08bfeafc43c9

51. http://www.intellogist.com/wiki/IPC_Classification_System

52. http://www.raytec.co.jp/support/topics/epo_emw2011/classification_training_emw_2011.pdf