© ۱۳۹۳
کلیه حقوق این سایت متعلق به ستاد توسعه فناوری نانو می باشد و هر گونه استفاده از مطالب آن بدون ذکر نام منبع ممنوع است.
نانو
nano
پيشوندي به معناي يک بيليونم يا (000،000،000،1/1). در متون فناورينانو، معمولا براي مشخص کردن يک واحد اندازهگيري برابر با 10 به توان منفي 9 متر استفاده ميشود.
میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (1)
1- مقدمه
نمایش توضیحات فیلم
توضیحات : میکروسکوپ نیروی مغناطیسی(MFM) بطور موفقیت آمیزی برای مشخص یابی انواع حامل های مغناطیسی مانند نوارها و ثبت کننده های طولی و عمودی استفاده می شود. کاربرد عمده اولیه MFM، تصویربرداری از ساختار بیت های اطلاعاتی نوشته شده در مواد ضبط مغناطیسی می باشد.
نمایش توضیحات فیلم
توضیحات : اساس کارمیکروسکوپ نیروی مغناطیسی(MFM)، تغییر نیروی برهمکنش بین سوزن مغناطیس شده و میدان مغناطیسی موضعی نمونه می باشد که برای تمایز بین تصویرتوپوگرافی از تصویرمغناطیسی، از روش دومرحله ای استفاده می شود. در مرحله اول، توپوگرافی با قرار گرفتن سوزن در نزدیک سطح در مد تماسی یا شبه تماسی بدست می آید و در مرحله دوم، پایه تا ارتفاع مشخصی بالا می رود و سطح با توجه به توپوگرافی ذخیره شده روبش می شود.
نمایش توضیحات فیلم
توضیحات : استفاده از تکنیک های نوسانی در میکروسکوپ نیروی مغناطیسی(MFM) بعلت حساسیت بالاتر، تصاویر بهتری را ایجاد می کند. تکنیک مدولاسیونی میکروسکوپ نیروی مغناطیسی با فرکانس بالا(HF-MFM)، یکی از این روش ها است که پاسخ MFM را در فرکانس بالاو پایین تفکیک می کند و در زمان میانگین، نیروی موثر اندازه گیری می شود.
نمایش توضیحات فیلم
توضیحات : ایجاد تصویر در میکروسکوپ نیروی مغناطیسی(MFM)، بوسیله ضبط تغییرات در دامنه یا فاز نوسان کانتیلور شکل می گیرد. برای غلبه بر نقاط ضعف پایه ها در تعیین دامنه نوسان، تکنیک استفاده از دیاپازون کوارتزی توسعه یافته است که در آن دامنه لرزش ها کوچکتر می باشد. در این تکنیک با اعمال ولتاژ متناوب(میلی ولت) بر روی الکترود، دوشاخه کوارتزی پیزوالکتریک در فرکانس رزونانس خود در مد خمشی نوسان می کند که پاسخ آن به گرادیان های نیروی مغناطیسی، فرکانس نوسان را تغییر می دهد.
نمایش توضیحات فیلم
توضیحات : یکی از پیشرفت های میکروسکوپ نیروی مغناطیسی(MFM) در زمینه تکنولوژی ثبت مغناطیسی، نقشه برداری حساسیت مقاوم به مغناطیس(MSM)است که بعنوان ابزاری ارزشمند برای بررسی کارایی سنسورهای مقاوم در برابر مغناطیس(MR/GMR) می باشد. در این روش سوزن مغناطیسی در یک نوک ثبت کننده، بعنوان منبع میدان مغناطیسی تحریک کننده سنسور مقاوم به مغناطیس عمل می کند.
نمایش توضیحات فیلم
منابـــع و مراجــــع
1. Y. Martin, H. K. Wickramasinghe, "Magnetic imaging by ‘‘force microscopy’’ with 1000 Å resolution", Appl. Phys. Lett. 50, 1455 (1987);.
2. علیرضا ذوالفقاری، محمد الماسی، پیروز مرعشی، مهرداد نجبا، امید سیفی، "میکروسکوپ پروبی روبشی آزمایشگاهی روی نوک سوزن"، تهران، پیک نور، (1385).
3. V. L. Mironov ,"Fundamentals of scanning probe microscopy", (2004). .
4. Y. Martin, C.C. Williams, H.K. Wickramasinghe, Atomic force microscope-force mapping and profiling on a sub 100A ˚ scale, J. Appl. Phys. 61, 4723–4729 (1987).
5. D. Rugar, H.J. Mamin, P. Guethner, S.E. Lambert, 1.E. Stern, 1. McFadyen and T. Yogi, 'Magnetic force microscopy: general principles and application longitudinal recording media' ,J. Appl. Phys. 68 (3), 1169 (1990)
6. J.L. Hutter and J. Bechhoefer: 'Manipulation of van der Waals forces to improve image resolution in atominc-force microscopy', J. Appl. Phys. 73 (9), 4123- 4129, (1993).
7. D.O. Koralek, W.F. Heinz, M.D. Antonik, A. Baik, and J.H. Hoh:.'Proning deep interaction potentials with white-noise-driven atomic force microscope cantilevers', Appl. Phys. Lett. 76 (20), 2952 (2000)
8. C. Bustamante, S.B. Smith, J. Liphardt, and D. Smith: 'Single molecule studies of DNA mechanics' ,Current Opinion in structural Biology. 10,279 (2000)
9. E. Evans: 'Probing the relation between force-lifetime and chemisty in single molecular bonds' ,Ann. Rev. Biophys. Biomol. Structure 30 (2001).
10. F.J. Giessibl: In S. Morita, R. Wiesendanger, and E. Meyer (Eds.), oncontaet Atomic Force Microscopy (Springer, Berlin, 2002) p.ll
11. U. Rabe, K. Janser, and W. Arnold: 'Vibrations of free and surface-coupled atomic force microscope cantilevers: Theory and experiment', Rev. Sci. lnstr. 67,(9), 3281 (1996).
12. H.J. Butt and M. Jaschke: 'Calculation of thermal noise in atomic force microscopy', Nanotechnology 6 (1), 1 (1995).
13. T. Bouhacina, J.P. Aime, S. Gauthier, and D. Michel: Phys. Rev. B 56, 7694, (1997).
14. T. Trenkler, T. Hantschel, R. Stephenson, P. Dewolf, W. Vande ors. L Hellemans, A. Malave, D. Buchel, E. Oesterschulze, W. Kulisch, P. Niedermann. T. Sulzbach, and O. Ohlsson: 'Evaluating probes for electrical atomi force microscopy', J. Vac. Sci. Technol. B 18 (1),418 (2000). .
15. S. Rast, Ch. Watinger, U. Gysin, and E. Meyer: Nanotechnology 11, 169 (2000).
16. H.J. Mamin, D. Rugar, J.E. Stern, , B.D. Teris, and S.E. Lambert: 'Force microscopy of magnetization patterns in longitudinal recording media', Appl. Phys. Lett. 53 (16),1563 (1988).
17. P. Grutter, A. Wadas, E. Meyer, H.-R. Hidber, and H.-1. Guntherodt.Magnetic force microscopy ofCoCr thin film', 1. Appl. Phys. 66 (12), 6001 (1989)
18. C. Schoenenberger, S.F. Alvarado, S.E. Lambert, and I.L. Sanders, Magnetic force microscopy and its application to longitudinal thin films, J. Mag. Magn. Mat.93 123 (1991). .
19. U. Hartmann: 'Magnetic force microscopy and its application to longitudinal thin films' , Advanced Materials 2 (11), 550 (1990).
20. R. Howland, L. Benatar, "A PRACTICAL GUIDE TO SCANNING PROBE MICROSCOPY", ThermoMicroscopes, (2000).
21. E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, "Scanning Probe Microscopy The Lab on a Tip", USA, Springer, (2003).
22. I.E.Tamm - "Fundamentals of the theory of electricity", Publisher: Moscow, Mir, 1979.
جعفر جلالی علیایی - ۱۳۹۳/۰۱/۱۹
با سلام
لطفا منابع ارجاع داده شده را هم قرار دهید.
عنوان : تصویربرداری میکروسکوپ نیروی مغناطیسی(MFM)
توضیحات : ظهور میکروسکوپ نیروی مغناطیسی(MFM) بعنوان تکنیک ویژه ی توسعه یافته ای جهت تصویربرداری و مطالعه مغناطیسی و پدیده ها برای صنعت مرتبط با ذخیره سازی مغناطیسی(مانند صنعت مواد نیمه هادی) حائز اهمیت می باشد.در MFM، حرکت نوک مغناطیسی کاوشگر میدان مغناطیسی روی نمونه می تواند تصاویر ناحیه ای با تفکیک پذیری بالا و بطور همزمان ساختارهای پرمالوی(Permalloy) را نشان دهد.