© ۱۳۹۳
کلیه حقوق این سایت متعلق به ستاد توسعه فناوری نانو می باشد و هر گونه استفاده از مطالب آن بدون ذکر نام منبع ممنوع است.
نانو
nano
پيشوندي به معناي يک بيليونم يا (000،000،000،1/1). در متون فناورينانو، معمولا براي مشخص کردن يک واحد اندازهگيري برابر با 10 به توان منفي 9 متر استفاده ميشود.
معرفی میکروسکوپهای پروبی روبشی (1)
1- مقدمه
نمایش توضیحات فیلم
منابـــع و مراجــــع
V. L. Mironov ,"Fundamentals of scanning probe microscopy", (2004).
E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, "Scanning Probe Microscopy The Lab on a Tip", USA, Springer, (2003).
Bharat Bhushan, "Springer Handbook of Nanotechnology", USA, Springer, (2004).
http://edu.nano.ir/index.php/articles/show/81.
A. Burnham, D.D. Domiguez, R.L. Mowery, R.J. Colton, Probing the surface forces of monolayer films with an atomic force microscope, Phys. Rev. Lett. 64, 1931–1934 (1990).
O. Marti, B. Drake, P.K. Hansma, Atomic force microscopy of liquid-covered surfaces: atomic resolution images, Appl. Phys. Lett. 51, 484–486 (1987(-
B. Drake, C.B. Prater, A.L. Weisenhorn, S.A.C. Gould, T.R. Albrecht, C.F. Quate, D.S. Cannell, H.G. Hansma, P.K. Hansma, Imaging crystals, polymers and processes in water with the atomic force microscope, Science 243, 1586–1589 (1989).
M. Binggeli, R. Christoph, H.E. Hintermann, J. Colchero, O. Marti, Friction force measurements on potential controlled graphite in an electrolytic environment, Nanotechnology 4, 59–63 (1993).
G.Meyer, N.M. Amer, Novel optical approach to atomic force microscopy, Appl. Phys. Lett. 53, 1045–1047 (1988).
J.H. Coombs, J.B. Pethica, Properties of vacuum tunneling currents: Anomalous barrier heights, IBM J. Res. Dev. 30, 455–459 (1986).
M.D. Kirk, T. Albrecht, C.F. Quate, Low-temperature atomic force microscopy, Rev. Sci. Instrum. 59, 833–835 (1988).
F.J. Giessibl, C. Gerber, G. Binnig, A low-temperature atomic force/scanning tunnelingmicroscope for ultrahigh vacuum, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 984–988 (1991).
T.R. Albrecht, P. Grutter, D. Rugar, D.P.E. Smith, Low temperature force microscope with all-fiber interferometer, Ultramicroscopy 42–44, 1638–1646 (1992).
H.J. Hug, A. Moser, T. Jung, O. Fritz, A. Wadas, I. Parashikor, H.J. Guntherodt, Low temperature magnetic force microscopy, Rev. Sci. Instrum. 64, 2920–2925 (1993).
C. Basire, D.A. Ivanov, Evolution of the lamellar structure during crystallization of a semicrystalline-amorphous polymer blend: Time-resolved hot-stage SPM study, Phys. Rev. Lett. 85, 5587–5590 (2000).
H. Liu, B. Bhushan, Investigation of nanotribological properties of self-assembled monolayers with alkyl and biphenyl spacer chains, Ultramicroscopy 91, 185–202 (2002).
J. Foster, J. Frommer, Imaging of liquid crystal using a tunneling microscope, Nature 333, 542–547 (1988).
D. Smith, J. Horber, G. Binnig, H. Nejoh, Structure, registry and imaging mechanism of alkylcyanobiphenyl molecules by tunnelling microscopy, Nature 344, 641–644 (1990).
Y. Andoh, S. Oguchi, R. Kaneko, T. Miyamoto, Evaluation of very thin lubricant films, J. Phys. D 25, A71–A75 (1992).
D.W. Abraham, H.J. Mamin, E. Ganz, J. Clark, Surface modification with the scanning tunneling microscope, IBM J. Res. Dev. 30, 492–499 (1986).
R.M. Silver, E.E. Ehrichs, A.L. de Lozanne, Direct writing of submicron metallic features with a scanning tunnelling microscope, Appl. Phys. Lett. 51, 247–249 (1987).
A. Kobayashi, F. Grey, R.S. Williams, M. Ano, Formation of nanometer-scale grooves in silicon with a scanning tunneling microscope, Science 259, 1724–1726 (1993).
B. Parkinson, Layer-by-layer nanometer scale etching of two-dimensional substrates using the scanning tunneling microscopy, J. Am. Chem. Soc. 112, 7498–7502 (1990).
J.M.R. Weaver, D.W. Abraham, High resolution atomic force microscopy potentiometry, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 1559–1561 (1991).
J. Bardeen: 'Tunneling from a many-body point of view', Phys. Rev. Lett. 6, 57(1960).
I. Giaever, Energy gap in superconductors measured by electron tunneling, Phys. Rev. Lett. 5, 147–148 (1960).
P.K. Hansma, J. Tersoff, Scanning tunneling microscopy, J. Appl. Phys. 61, R1–R23 (1987).
D. Sarid, V. Elings, Review of scanning force microscopy, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 431–437 (1991).
U. Durig, O. Zuger, A. Stalder, Interaction force detection in scanning probe microscopy: Methods and applications, J. Appl. Phys. 72, 1778–1797 (1992).
J. Frommer, Scanning tunneling microscopy and atomic force microscopy in organic chemistry, Angew. Chem. Int. Ed. 31, 1298–1328 (1992).
H.J. Guntherodt, R. Wiesendanger (Eds.), Scanning Tunneling Microscopy I: General Principles and Applications to Clean and Adsorbate-Covered Surfaces (Springer, Berlin, Heidelberg 1992).
R. Wiesendanger, H.J. Guntherodt (Eds.), Scanning Tunneling Microscopy II: Further Applications and Related Scanning Techniques (Springer, Berlin, Heidelberg 1992).
D.A. Bonnell (Ed.), Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy – Theory, Techniques, and Applications (VCH, New York 1993).
O. Marti, M. Amrein (Eds.), STM and SFM in Biology (Academic, San Diego 1993).
B. Bhushan, G.S. Blackman, Atomic force microscopy of magnetic rigid disks and sliders and its applications to tribology, ASME J. Tribol. 113, 452–458 (1991).
J. Stroscio, W.J. Kaiser (Eds.),"Scanning Tunneling Microscopy", Academic Press, (1993).
علیرضا ذوالفقاری، محمد الماسی، پیروز مرعشی، مهرداد نجبا، امید سیفی، "میکروسکوپ پروبی روبشی آزمایشگاهی روی نوک سوزن" ،تهران، پیک نور، (1385).
http://www.natsyco.com/.
مریم غفاری - ۱۳۹۳/۰۲/۲۳
دسترسی به رفرنس ها چگونه می باشد؟
لیلا صیدمرادی - ۱۳۹۲/۱۰/۲۴
با عرض سلام و ادب،
اینجانب به عنوان یکی از کاربران سایت آموزش ازتلاش و زحمات ارزشمند و صادقانه شما درزمینه آموزش فناوری نانو کمال تشکر و قدردانی را دارم. مطالب سایت برای من مفید و کارامد بوده و من روزی یک جلسه از مطالب را مطالعه می کنم.
امید آنکه درسایه الطاف خداوند منان همواره سلامت، شاد و موفق باشید.
عنوان : میکروسکوپ نیروی الکتروستاتیک(EFM)
توضیحات : یکی از اعضای خانواده میکرسکوپ پروبی روبشی، میکروسکوپ نیروی الکتروستاتیکی(EFM) است که تکنیک تصویربرداری آن، تکنیک میکروسکوپی نیروی اتمی(AFM) می باشد. در EFM، نیروهای الکترواستاتیک جاذبه و دافعه به نوک پروب در حال نوسان برخورد می کنند و رفتارش را تغییر می دهند.