دوره آموزشی غیرحضوری «میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM و تحلیل داده‌های آن»

میکروسکوپ‌های الکترونی عبوری (TEM: Transmission electron microscope) ابزارهایی ویژه در مشخص کردن ساختار و مورفولوژی مواد محسوب می‌شوند که مطالعات ریزساختاری مواد با قدرت تفکیک بالا و بزرگنمایی خیلی زیاد را امکان‌پذیر می‌سازند؛ با استفاده از TEM قابلیت تصویربرداری مستقیم از ذرات تا اندازه یک اتم فراهم می‌شود؛ جهت تصویرسازی، ابتدا یک الگو با استفاده از پرتوهای الکترونی عبوری و/یا پراکنده شده از نمونه، که با استفاده از دریچه‌ها انتخاب می‌شوند، تهیه شده و سپس تحت تأثیر عدسی‌های مناسب برای دستیابی به تصویری با کنتراست بالا قرار می‌گیرد. فرایند انتخاب پرتو، تکنیک‌هایی مانند اندازه‌گیری‌های میدان روشن و میدان تاریک و تصویربرداری با رزولوشن بالا (HR-TEM) را از یکدیگر تفکیک می‌کند. این پارامترها در میزان وضوح تصویر و کنتراست بین ذرات و زمینه، تعداد ذرات در هر تصویر، و در نتیجه آنالیز نهایی ذرات مؤثر است. در این بین، پراش الکترون یکی از مهم‌ترین پدیده‌هایی است که در میکروسکوپ‌های الکترونی عبوری و در هنگام بررسی نمونه‌های بلوری اتفاق می‌افتد، که با بررسی آن طیف وسیعی از داده‌ها در مورد ویژگی‌های ساختاری مواد نشان داده خواهد شد. از ابن‌رو می‌توان از TEM جهت مطالعات ساختارهای بلوری، تقارن، جهت‌گیری و نقائص بلوری استفاده کرد. این موارد سبب شده است که TEM امروزه به عنوان یک ابزار بسیار مهم در بسیاری از تحقیقات پیشرفته فناوری نانو، فیزیک، شیمی، بلورشناسی، علم مواد و زیست‌شناسی شناخته شود.

 

 

دوره آموزش غیرحضوری «میکروسکوپ الکترونی عبوری TEM و تحلیل داده‌های آن» با تدریس جناب آقای دکتر مولایی در اختیار کاربران قرار می‌گیرد؛ این دوره شامل 4 ساعت ویدیو آموزشی است.

 

جناب آقای دکتر جعفر مولایی

* دکتری نانوفناوری (گرایش نانومواد) از دانشگاه تهران

* عضو هیئت علمی دانشگاه صنعتی شاهرود

* مدرس برتر فناوری نانو

* مدرس دوره آموزشی غیرحضوری XRD

 

مقایسه میکروسکوپ‌های الکترونی و نوری و تاریخچه میکروسکوپ الکترونی

چرا به میکروسکوپ الکترونی عبوری نیاز داریم؟

تصویرسازی و بزرگنمایی در TEM (برهمکنش الکترون با ماده و ....)

اصول کار TEM

دستگاه‌وری TEM (لنزهای الکترومغناطیسی، نحوه تشکیل باریکه الکترونی (تفنگ نشر حرارتی، تفنگ نشر میدانی و ...)، دتکتورها و ...)

عمق میدان / عمق فوکوس

مدهای TEM (تصویر و پراش)

مقدمه‌ای کوتاه بر کریستالوگرافی (بلور، سیستم‌های بلوری، شبکه براوه، اندیس میلر، صفحات بلوری، اصول پراش و ...)

مقدمه‌ای کوتاه بر شبکه وارون

پراش در TEM

آنالیز طرح پراش در TEM (مراحل اندیس‌گذاری طرح پراش، طرح‌های نقطه‌ای، طرح دایره‌ای یا رینگی، محاسبه d-spacing و ....)

تشکیل تصویر و نقش روزنه

کنتراست در TEM (کنتراست جرم - ضخامت، کنتراست پراش و ....)

تصویر میدان روشن و تصویر میدان تاریک

ساختارهای آمورف در طرح پراش

عیوب کریستالی در تصاویر TEM

نمونه‌های دارای خم‌شدگی در TEM

کانتور ضخامت

HRTEM

طرح پراش تبدیل فوریه

STEM

آماده‌سازی نمونه برای TEM (پودر، بالک فلزی، اولترامیکروتومی، رپلیکا و ....)

 

معرفی دوره

1