دوره آموزشی غیرحضوری «آشنایی با روش‌های آنالیز و مشخصه‌یابی نانوساختارها»

در سال‌های اخیر مواد نانوفاز و نانوساختار به دلیل کاربردهای زیادی که در حوزه الکترونیک، اپتیک، کاتالیست، انرژی و ... دارند بسیار مورد توجه پژوهشگران و فناوران قرار گرفته‌اند. اندازه، ساختار و برهمکنش‌های بین اتمی و مولکولی نقش اصلی را در تعیین خواص و ویژگی‌های این مواد بازی می‌کنند و از این‌رو مشخصه‌یابی و تعیین ویژگی‌های این ساختارها ضروری است. این مشخصات شامل تعیین اندازه، توزیع اندازه، شکل، ترکیب شیمیایی، فاز بلوری، بافت، خواص فیزیکی، مکانیکی و شیمیایی نانومواد و .... می‌شود. برای تعیین هر یک از این خصوصیات نیاز به ابزارها و تکنیک‌های مختلفی است که اطلاعات دقیقی را به ما ارائه دهند. برخی از این ابزارها همان ادوات مورد استفاده در مشخصه‌یابی مواد بالک هستند و برخی، تکنیک‌ها و ابزارهای جدیدی هستند که برای بررسی ویژگی‌ها و مشخصات در مقیاس نانو تولید شده یا توسعه یافته‌اند. باتوجه به مشکلات و سختی‌های مشخصه‌یابی مواد در مقیاس نانو، توسعه ابزارهای مشخصه‌یابی ضروری بوده و  به یک علم تبدیل شده است.

دوره آموزش غیرحضوری «آشنایی با روش‌های آنالیز و مشخصه‌یابی نانوساختارها» با تدریس جناب آقای دکتر کشی‌پور در اختیار کاربران قرار می‌گیرد؛ این دوره شامل ۶ ساعت ویدیو آموزشی است.

 

جناب آقای دکتر سجاد کشی‌پور

 * عضو هیأت علمی پژوهشکده نانوفناوری دانشگاه ارومیه

 * دانش‌آموخته دکتری شیمی آلی از دانشگاه شهید بهشتی تهران

* همکاری در تألیف چند کتاب بین‌المللی

 * انتشار چندین مقاله ISI و اجرای چندین طرح پژوهشی

* ثبت 5 اختراع در حوزه شیمی و فناوری نانو

 

کارگاه اول: آشنایی با روش‌های تصویربرداری، تعیین فاز، ترکیب و مورفولوژی نانوساختارها

·        مفهوم مشخصه‌یابی و اهمیت آن در فناوری نانو

·        انواع روش‌های مشخصه‌یابی

·        معرفی روش‌های تصویربرداری (میکروسکوپ‌ الکترونی روبشی SEM، میکروسکوپ‌ الکترونی عبوری TEM و میکروسکوپ‌ الکترونی روبشی-عبوری STEM، میکروسکوپ‌های پروبی روبشی، میکروسکوپ نیروی اتمی AFM و میکروسکوپ تونلی روبشی STM)

·        معرفی روش‌های تعیین اندازه ذرات (تفرق دینامیکی نور DLS – تفرق اشعه ایکس زاویه کوچک SAXS و گسترده WAXS – کاربرد TEM در تعیین اندازه ذرات)

·        آشنایی با اندازه‌گیری سطح ویژه و تخلخل BET

·        آشنایی با روش‌های آنالیز عنصری (طیف‌سنجی افت انرژی الکترون EELS – طیف‌سنجی پراش انرژی اشعه ایکس EDX – طیف‌سنجی فوتوالکترونی اشعه ایکس XPS – طیف‌سنجی فوتوالکترونی ماوراء بنفش UPS – طیف‌سنجی الکترون اوژه AES – فلورسانس اشعه ایکس XRF – آنالیز CHNS)

·        آشنایی با روش پراش اشعه ایکس XRD

 

کارگاه دوم: آشنایی با روش‌های طیف‌سنجی و تعیین خواص مواد

·        آشنایی با طیف‌سنجی جرمی MS

·        آشنایی با طیف‌سنجی جذب اتمی AAS

·        آشنایی با طیف‌سنجی مادون قرمز FTIR

·        آشنایی با طیف‌سنجی رامان Raman

·        آشنایی با طیف‌سنجی رزونانس مغناطیسی هسته NMR

·        معرفی روش‎های تعیین خواص حرارتی (TGA-DTA-DSC)

·        معرفی روش‌های تعیین خواص مغناطیسی (VSM)

·        آشنایی با روش‌های تعیین خواص نوری (طیف‌سنجی جذب مولکولی/جذب نور، فلورسانس نوری)

·        آشنایی با روش‌های تعیین خواص مکانیکی (آزمون کشش – ضربه – سایش – چقرمگی و ....)

·        معرفی دستگاه‌های آنالیز مواد تولید داخل

معرفی دوره