دوره آموزش غیرحضوری «میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)»

میکروسکوپ‌های نیروی اتمی یا AFM به عنوان یکی از اصلی‌ترین تجهیزات شناسایی در مقیاس نانو شناخته شده است. میکروسکوپ نیروی اتمی نوعی میکروسکوپ پروبی روبشی با رزولوشن بسیار بالا است. رزولوشن این میکروسکوپ به کسری از نانومتر نیز می‌رسد که هزار مرتبه از رزولوشن میکروسکوپ نوری بهتر است. در این میکروسکوپ داده‌ها با اسکن کردن سطح نمونه توسط یک پروب مکانیکی به دست می‌آیند. قطعات پیزوالکتریک که قادر به تشخیص حرکت‌های بسیار کوچک پروب هستند، دقت دستگاه را تا حد زیادی بالا می‌برند. 

درهمین راستا دوره آموزش غیرحضوری «میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)» در بستر جدید (دستیار خوب) با تدریس جناب آقای ابوالفضل آذرنیا برگزار می‌شود. این دوره شامل 3 ساعت ویدیو است و همچنین علاوه بر ویدیو، متن آموزشی حوزه میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) را دارد.

filereader.php?p1=main_a9a96ab7bb5d7761b754135449574f11.jpg&p2=news&p3=23&p4=1

آقای ابوالفضل آذرنیا

* دانشجوی دکتری مهندسی مواد – دانشگاه صنعتی شریف

* مولف چند جلد کتاب و مجری چندین پروژه در حوزه فناوری نانو

* مدرس دوره غیرحضوری AFM

 

filereader.php?p1=main_d99f9ebcb9db9584d9d283edb98744a3.jpg&p2=news&p3=23&p4=1

*معرفی کلی انواع روش‌های میکروسکوپ پروبی روبشی (SPM) (شامل STM، AFM، SNOM، MFM، TERS، SERS، RAMAN، STS و ...)

*الگوهای مختلف اسکن کردن در AFM

*تفاوت تصاویر چپ به راست و راست به چپ

*مودهای AFM

*چگونگی گرفتن آنالیز/تصویر

*عوامل موثر بر تصویربرداری در مقیاس اتمی

*سیستم AFM

*آشکارسازی

*پدیده cut off

*عوامل خطا

 

 

معرفی دوره

۱