تاریخ درج۱۳۹۸/۰۴/۱۸
تعداد بازدید۳۵۲
موضوعات
امتیاز کاربران

دوره حضوری «جستجو و تحلیل پتنت»

سایت آموزش فناوری نانو با هدف ارتقای سطح دانش و مهارت تحلیل در پژوهش، در دانشجویان و پژوهشگران، اقدام به برگزاری دوره‌های حضوری با رویکرد کاربردی و تحلیلی کرده است. این دوره‌ها در دانشگاه تهران برگزار خواهد شد. دوره حضوری با عنوان «جستجو و تحلیل پتنت» با تدریس دکتر حسن علم خواه در تاریخ ۱۰ مرداد ماه ۹۸ در دانشکده فیزیک دانشگاه تهران برگزار می‌شود.

در راستای افزایش سطح مهارت تحلیل کاربردی در پژوهش برای دانشجویان، پژوهشگران و مخترعان، سایت آموزش نانو، دوره آموزش حضوری «جستجو و تحلیل پتنت» را برنامه‌ریزی کرده است.

تحلیل پتنت یا تحلیل اطلاعات ثبت اختراع با استفاده از بانک‌های اطلاعاتی مستندات ثبت اختراع میسر می‌شود. اطلاعات به دست آمده از تحلیل پتنت، در سطوح مختلف و همچنین در حوزه‌های مختلف فعالیت‌های پژوهشی مانند سیاست‌گذاری، پشتیبانی، زیربنایی و اجرای دستاوردهای پژوهشی کاربرد دارد. سیاست‌گذاران و مدیران، صنایع و شرکت‌های خصوصی و محققین و دانشگاهیان، مخاطبان اصلی اطلاعات به دست آمده از تحلیل پتنت هستند.

دوره حضوری «جستجو و تحلیل پتنت» در تاریخ ۱۰ مرداد ‌ماه ۹۸ به مدت ۴ ساعت و طی یک روز، از ساعت ۱۴ الی ۱۸ با تدریس جناب آقای دکتر حسن علم خواه، در دانشکده فیزیک دانشگاه تهران برگزار می‌شود.

* هزینه ثبت‌نام در این دوره حضوری ۱۲۰ هزار تومان است.

 

به علاقه‎مندانی که تا پایان روز ۲۸ تیرماه ثبت‌نام خود را تکمیل کنند، ۲۰% تخفیف تعلق گرفته و هزینه ثبت‌نام ۹۶ هزار تومان خواهد بود.

 

** به تمامی شرکت‌کنندگان دوره، گواهی پایان دوره معتبر از بنیاد آموزش فناوری نانو تعلق می‌گیرد.

*** شرکت در این دوره نیازمند مباحث پیش‌نیاز است که در ادامه توضیح داده خواهد شد.

گفتنی است در صورت انصراف از ثبت‌نام تا (۷ مرداد)، ۷۰ درصد هزینه پرداختی قابل برگشت است؛ در صورت انصراف از ثبت‌نام بعد از تاریخ مذکور، هزینه قابل برگشت نخواهد بود، لذا خواهشمند است در حین ثبت‌نام دقت کنید.

 

بخش اول: آشنایی با ادبیات حقوقی پتنت

• چارچوب پتنت (حق اختراع) بر اساس تعریف سازمان وایپو

• شرایط چهارگانه ثبت اختراع به همراه مثال موردی

• درک مفهومی اجزای پتنت (مالک، مخترع، متقاضی، ...)

• آشنایی با کنوانسیون مالکیت صنعتی پاریس و ارتباط آن با تحلیل پتنت

 

بخش دوم: جستجوی اسناد پتنت

• آشنایی با انواع بانک‎های اطلاعات رایگان پتنت‎های ثبت شده دنیا

• تکنیک‎ها و استراتژی‌های جستجوی پتنت

• آشنایی با طبقه‎بندی بین‎المللی اختراعات در حوزه فعالیت‌های تحقیقاتی

• آشنایی با اجزای پتنت و آشنایی با نحوه مطالعه پتنت‎های بین‎المللی

 

بخش سوم: تحلیل پتنت

• آشنایی با ادبیات و تعریف تحلیل پتنت و اهداف آن

• سطوح تحلیل پتنت (استراتژیک، رقابتی، فنی)

• آشنایی با نرم افزارهای تخصصی تحلیل پتنت و رصد فناوری

• مطالعه موردی تحلیل پتنت در حوزه فناوری نانو


پیش‌نیاز دوره

شرکت در این دوره نیازمند مشاهده و مطالعه دوره غیرحضوری «پتنت و مالکیت فکری» از طریق پلتفرم دستیار خوب خواهد بود.

http://edu.nano.ir/news/62927

*** ثبت‎نام‎کنندگان دوره حضوری «جستجو و تحلیل پتنت» می‎توانند به صورت رایگان از محتوای این دوره غیرحضوری استفاده کنند.

 

دکتر حسن علم خواه

دکتری مهندسی مواد – فناوری نانو

عضو هیأت علمی دانشگاه بوعلی سینا همدان

پژوهشگر حقوق مالکیت فکری

مؤلف چند جلد کتاب و مجری چندین پروژه در حوزه پتنت و مالکیت فکری

مدرس دوره‌های «پتنت و مالکیت فکری» و «نانوپوشش»

 



ثبت‌نام در این دوره از ۲ طریق ممکن است: سایت ایوند و صفحه شخصی اعضا در سایت ستاد

۱- جهت ثبت‌نام از طریق سایت ایوند، از طریق دکمه زیر وارد صفحه ثبت‌نام شوید و پس از تکمیل فرم، ثبت‌نام کنید.

۲- ثبت‌نام از طریق کارتابل افراد در سایت ستاد ویژه توسعه فناوری نانو

ثبت‌نام در این دوره‌ از طریق صفحه شخصی اعضا در سایت ستاد قسمت کارتابل افراد (حمایت تشویقی) صورت می‌گیرد.


برای کسب اطلاعات بیشتر درباره دوره با شماره‌ ۰۹۱۰۴۷۱۲۰۳۶ تماس حاصل فرمایید.